BRICK INFRAROT DURCHLEUCHTUNG

Anlage zum Prüfen von multikristallinen Silizium Bricks

- Zuverlässige Inspektion von Mirkrocracks und SiC-Einschlüssen bis zu 1 mm
- Reduzierung von Drahtriss beim Waferschneiden
- Erhöhung der Waferausbeute
- Messlaufzeit weniger als 1 Minute
- Manuelle oder automatische Beladung
- Visuelles 3D Model des Bricks
- Zusammenstellung von Bricks zum Ingot
- Analysemöglichkeit des Kristallisationsprozesses

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